IC測(cè)試基板（探針卡）是一種測(cè)試接口，主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試通過連接測(cè)試機(jī)和芯片，通過傳輸信號(hào)對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。探針卡主要目的是將探針卡上的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸，引出芯片訊號(hào)，再配合周邊測(cè)試儀器與軟件控制達(dá)到自動(dòng)化量測(cè)的目的。探針卡應(yīng)用在IC尚未封裝前，針對(duì)裸晶系以探針做功能測(cè)試，篩選出不良品后再進(jìn)行之后的封裝工程。

       IC測(cè)試基板在PCB制作中常使用超高層PCB板，一般都在12層以上，并且鉆孔孔徑較小有著較大的孔徑比，一般PCB工廠很難生產(chǎn)造作，愛彼電路做為高精密PCB專業(yè)生產(chǎn)商

 IC測(cè)試基板應(yīng)用：

IC測(cè)試

半導(dǎo)體測(cè)試

品    名：36層IC測(cè)試板

板    材：TU-872
層    數(shù)：36L

板    厚：5mm

銅    厚：1oz
顏    色：綠油
表面處理：鍍金

最小孔徑：0.1mm

最小線距：0.75mm

最小線寬：0.075mm

特殊工藝：0.35mm

應(yīng)用范圍：IC測(cè)試，探針卡